測量完此類(lèi)葉片(含裝夾,建基準,出報告)單片大約需要15分鐘。
為此我們?yōu)榭蛻?hù)提供了非接觸式白光測量解決方案(CORE-DS)
➣ 首先測量效率高:掃描速度高達100mm/s以該型葉片為例,白光測量?jì)H需6分40秒(含裝夾,建基準,出報告)。
➣ 測頭校正時(shí)間短,測頭一次校正,所有的角度都可以使用。
➣ 不存在掃描測頭加速和減速時(shí)的不穩定性
➣ 沒(méi)有余弦誤差,光點(diǎn)直徑僅為35um,直接測得截面實(shí)際值,不存在測球半徑補償。
余弦誤差示意圖:接觸式接觸的是圖中的7點(diǎn),測頭補償(4)后得到實(shí)測點(diǎn)3和4的交點(diǎn),而白光直接測得就是圖示6點(diǎn)。所以不存在3余弦誤差(cosine error)
➣ 無(wú)需輔助定位夾具,所有基準元素均為直接測量,提高了坐標系的精度。
➣ 六點(diǎn)預定位,使掃描更加準確。在掃描葉型前,會(huì )預先在葉盆,葉背,前尾圓采6點(diǎn),然后根據實(shí)際的葉型狀況,來(lái)調整葉型的掃描路徑(平移、旋轉,甚至縮緊或者擴張)。
➣ 自動(dòng)根據曲率變化來(lái)分布控制點(diǎn)的疏密。(前尾圓加密,盆背稀疏)
➣ 多種類(lèi)型的報告可供客戶(hù)選擇
另外,客戶(hù)根據自己的實(shí)際需求定制自己喜歡的報告樣式。
➣ 一鍵式測量界面
OPEN_DMIS的Xecute 界面模式是我們專(zhuān)門(mén)為操作者而開(kāi)發(fā)的。用戶(hù)只需點(diǎn)擊對應被測零件的圖標,程序即可自動(dòng)運行,全程看不到程序代碼,保障了程序的安全和測量的高效。
為了進(jìn)一步提高客戶(hù)運行程序的效率,我們將輸入工件名稱(chēng),爐號,工件號這些在程序運行中必須輸入的信息移動(dòng)到了運行程序外面,客戶(hù)可以把下一片即將測量的號碼預先寫(xiě)入到一個(gè)TXT內,程序運行時(shí)自動(dòng)調取。節省了機器的等待時(shí)間,此項為客戶(hù)節省約10S。
為客盡可能節省時(shí)間,提高效率,是我們不斷追求的目標……