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    質(zhì)子半徑之謎有望破解

    發(fā)布時(shí)間：2019-11-07 作者： 來(lái)源： 瀏覽：2764
    電子散射和氫原子光譜實(shí)驗，是測定質(zhì)子半徑的兩種主要手段。近年來(lái)，通過(guò)這兩種方式得到的質(zhì)子半徑出現一定分歧，“質(zhì)子半徑之謎”由此出現。在一項發(fā)表在《自然》雜志的最新研究中，美國托馬斯·杰斐遜國家加速器的科學(xué)家通過(guò)高精度的電子散射實(shí)驗，測出了最新的質(zhì)子半徑為0.831飛米（1飛米等于10^-15米）。這個(gè)結果比之前通過(guò)該手段測得的數值（0.88飛米）更小，而與最新的μ子原子光譜測量結果相近。接下來(lái)，研究團隊希望進(jìn)一步提升測量精度，從而最終確定質(zhì)子半徑。
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